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上海市高新技术企业
上海市“专精特新”企业
完善的半导体领域、微纳米实验室测试方案集成商
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合作客户>1600位
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产品概要:此设备用于半导体元器件静电保护电路抗静电能力的测试,通过该测试可以...
产品概要:HANWA新一代G5000系列ESD静电破坏检测机隆重登场。搭载多Pin脚无继电器...
产品概要:此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备(满足JEITA ESDA J...
产品概要:低成本高性能晶圆ESD测试仪,从LED到系统LSI的大口径Wafer,可适用于HBM...
产品概要:其提供了一个经济的, 稳定的, 可靠的超低温和强磁场环境用于微纳器件...
产品概要:低温探针台可以对器件进行非破坏性的测试,器件的最大尺寸可达到102mm(4...
产品概要:此类闭循环制冷机不需要消耗液氦和液氮,CPX系列探针台的温度变化范围 ...
产品概要:MPS-C-350探针台可以完全将样品放在可控三维磁场进行测试。MicroXact独...
产品概要:射频探针的特点之一是其均匀的磨损:经过数十万次探头循环,探头尖端的...
产品概要:差分射频探针扩展了 MPI 专有的 TITAN™射频探测技术,用于表征...
产品概要:MPI 提供各种校准标准,以满足晶圆射频和微波测量的特定应用需求。基本...
产品概要:英铂为您提供DC、各类开尔文探针,以供产品测试使用。基本信息:技术优...
产品概要:The PHEMOSe-X is a high-resolution emission microscope that...
产品概要:日立Ethos NX5000创新的FIB-SEM设计平台在一个系统中结合了各种分析应...
产品概要:RA-880 可简单方便的进行半导体塑封器件的封装去层,露出基板上的引线...
产品概要:RKD的Elite Etch Cu是一台可为铜线开封的化学开封机,通过集成了先进...
产品概要:Maury 噪声参数测试系统的噪声系数是衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声...
产品概要:Maury 微波公司脉冲测量技术专业化程度极高而且普遍被业内用户认可,搭...
产品概要:4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的半导体参数分析仪,可以同步...
产品概要:独特的内置频谱分析功能由选配变为标配,其功能非常适合用于射频分析。1...
Okmetic 是较早将绝缘体上硅技术和 SOI 硅片引入 MEMS 行业的硅片供应商之一...
具有内置图案和埋腔(C-SOI®)的 Okmetic 单抛片(SSP)、双抛片(DSP)和 ...
使用多晶硅填充 TSV,Okmetic 的硅片可实现 MEMS 的三维集成和先进的晶圆级封...
Okmetic 的 RFSi®高阻片是制造射频滤波器和设备的硅基衬底。其 RFSi®高...
产品概要:MEMS 和微系统的3D 振动测量,实物振动通常是三维振动。诚然,您可选...
产品概要:表面形貌、动态特性分析及可视化是显微结构(如MEMS器件)测试和开发的...
产品概要:MEMS器件的动态特性测试和机械响应可视化对于产品开发、故障排除和有限...
产品概要:MSA-060显微式激光测振仪是一款紧凑型光学测量系统,用于全面评估MEMS和...
四探针法测量半导体电阻率测试方案电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针法具有设备简单、操作方便、...
光电器件的LIV特性测试方案LIV即光电特性,是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的 LIV测试 系统对制造光电器件的...
功率器件的IV、CV特性测试方案电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针法具有设备简单、操作方便、...
更多测试方案半导体材料的霍尔效应是表征和分析半导体材料的重要手段,可根据霍尔系数的符号判断材料的导电类型。霍尔效应本质上是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用引起的偏转,当带电粒子(...